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二手 日立 SU-8010 冷場發(fā)射電鏡用途

廣泛應用于材料、生命科學、醫(yī)學、物理、地礦、化工、化學、冶金、機械、制藥等多個領域的微觀尺寸測量、形貌表征和元素分布表征等檢測。

3.送樣要求

       3.1樣品必須是固體（部分液體材料可視情況烘干后測量），且無毒、無放射性、不含有有機揮發(fā)物和水分；

       3.2樣品需電化學性質穩(wěn)定，在高真空電子束下，都能保持成分穩(wěn)定和形態(tài)不變；

       3.3對于強磁性樣品，一般不予測量。如有個別需求，需面議。

4.主要性能指標

       4.1 分辨率

       ≥1.0 nm（HV=1.5KV，WD=4mm）

       ≥1.3 nm（Vi=1KV，減速模式）

       4.2 EDS元素分析儀

掃描電鏡的拓展儀器，可對絕大多數(shù)元素進行定性和半定量分析。可以選擇點、線、面等多種分析模式，也可進行元素組成分布繪圖。

       4.3 樣品最大尺寸

≤100mm

       4.4 加速電壓

       低0.1KV，最高30KV

       4.5放大倍數(shù)

       20倍-80萬倍（底片模式）；80倍-800萬倍（顯示器模式）

       4.6 圖像處理

測試時，可以自由選擇SE或BSE電子像的組合，圖片類型可存儲為TIFF、BMP或JPEG格式。

性能指標：

分辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 減速模式)；2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式）

放大倍數(shù)：30倍-800,000倍；電子槍：冷陰極場發(fā)射電子源 ;     加速電壓:0.5-30kV (0.1KV/步，可變，普通模式)

樣品臺： X: 0-50mm Y: 0-50mm, Z:1.5-30mm, T: -5-70°,R:360°, 樣品尺寸最大直徑：100mm（標準）

信號選擇：二次電子模式和背散射模式，X射線信號，輔助信號 

主要應用：

利用SU8010可進行：（1）形貌分析，通過形貌像可以對樣品的形貌、粒徑、分散性進行表征，可用于金屬材料、薄膜材料、半導體材料、陶瓷材料、生物組織形貌像的觀察，同時還可對材料斷口和失效進行分析（2）微區(qū)成分分析，通過對樣品微區(qū)、亞微區(qū)成分進行分析定性、定量分析，可確定樣品的組成。

二手 日立 SU-8010 冷場發(fā)射電鏡售后服務保障

1、零配件庫存充足，對業(yè)務所及的儀器90%常見的故障準備了庫存配件，同時和廠家保持良好的合作的關系，零配件有充分的保障。

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4、不斷完善的服務體系。每一次服務都能做到規(guī)范化，可跟蹤及持續(xù)性，符合各行業(yè)的法規(guī)要求。

5、專業(yè)的服務團隊，工程師均是原廠工程師或經原廠工程師專業(yè)培訓過的，通過考核后方可上崗為客戶提供服務。